Ankündigung Webinar “rapid and large-scale sample preparation for EBSD using the ZEISS LaserFIB”
Lasergeschnittene Probe mit EBSD-Messung.
ZEISS Microscopy und das Institut für Materialforschung veranstalten am 13. Mai 2020 ein gemeinsames Webinar zur Anwendung eines neuen Femtosekunden Lasers (fs-Laser) in Kombination mit einem ZEISS Focus Ion Beam-Systems (FIB) in der Materialforschung.
Tim Schubert vom Institut für Materialforschung und Dr. Tobias Volkenandt von ZEISS präsentieren, welche Präparationsqualität mit dem fs-Laser bei Metallen erreicht wird und wie dieser in die mikroskopischen Abläufe integriert ist. Sie stellen unter anderem Anwendungsfälle zur schnellen und zielführenden Einbindung des fs-Lasers bei elektronenmikroskopischen Mikrostrukturanalysen mit electron backscatter diffraction - kurz EBSD - vor.
Interessierte können sich zum Webinar mit dem Titel „rapid and large-scale sample preparation for EBSD using the ZEISS LaserFIB“ am 13.05.2020 um 10:00 Uhr unter folgendem Link kostenfrei anmelden und teilnehmen: