Gefügecharakterisierung im Nanometerbereich mit Rasterkraft- und Rasterelektronenmikroskopie
von Gerhard, Schneider
B. Reinsch, B. Baretzky, G. Maier, U. Täffner, G. Schneider, M. Rühle „Gefügecharakterisierung im Nanometerbereich mit Rasterkraft- und Rasterelektronenmikroskopie“, Proceedings der Werkstoffwoche ´96, Stuttgart (1997)