Wie Machine Learning die Materialmikroskopie unterstützt
von Gerhard, Schneider
A. Jansche, A.-K. Choudhary, O. Badmos, T. Bernthaler, G. Schneider; DGM Jahresmagazin Materialographie / Metallographie 2018, S. 28-35
von Gerhard, Schneider
A. Jansche, A.-K. Choudhary, O. Badmos, T. Bernthaler, G. Schneider; DGM Jahresmagazin Materialographie / Metallographie 2018, S. 28-35