Verschleiß- und Schadenscharakterisierung an beschichteten Hartmetallwerkzeugen mittels FIB-SEM-Mikroskopie
von Gerhard, Schneider
T. Kresse, W. Jürgens, D. Meinhard, W. Baumann, T. Bernthaler, G. Schneider; Sonderbände der Praktischen Metallographie zur 51. Metallographietagung (2017)